[发明专利]小型硬盘的质量检测方法

摘要

本发明公开了一种小型硬盘的质量检测方法，该方法包括下述步骤；对硬盘进行初测试，对硬盘进行单项指标测试，对硬盘进行整体测试，安装标签，外观检测，生产系统水平测试，抽样检测，包装入库。由于采用了上述方案，本发明全面规范了小型硬盘的测试过程。具有操作步骤清晰、不会漏检或者重复检测等优点，保证了出厂硬盘产品的质量，同时提高了生产效率。

主权项

1、一种小型硬盘的质量检测方法，其特征在于，该方法包括下述步骤；A、对硬盘进行初测试：测试硬盘的集成电路板与基座连接是否良好，并存储一些技术信息；B、对硬盘进行单项指标测试：测试磁头是否偏移、伺服系统参数是否符合要求、硬盘的读写是否已达到最优化，以及记录硬盘运行中存在的各种问题；C、对硬盘进行整体测试：测试硬盘的读写是否达到标准要求；D、安装标签：安装标签前，首先检查标签是否有异常，有划痕；在安装标签时沿着硬盘的机械边缘缓慢贴合，以防止气泡产生；E、外观检测：检测硬盘接口有无变形、硬盘整体外观是否达到要求；F、生产系统水平测试：在使用状态下，对硬盘再进行读写操作，分别测试硬盘在读、写状态下的功能是否达到要求；G、抽样检测：按适当的比例，对经过以上步骤检测的硬盘进行抽样，对抽到的样品重复步骤E和步骤F；H、包装：对于通过以上步骤的产品进行外包装、入库。