[实用新型]元件测试分选机无效
| 申请号： | 200420001551.1 | 申请日： | 2004-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN2781361Y | 公开（公告）日： | 2006-05-17 |
| 发明（设计）人： | 高敏 | 申请（专利权）人： | 达方电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/00 | 分类号： | G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 陈小雯;李晓舒 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种元件测试分选机，包括：振动入料组，具有可容纳待测试元件分片的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数个沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；测试系统机构，依行进程序逐一探测每一沟槽洞的待测试元件，并执行既定的射频测试校验项目及存储校验修正值的对比分析后，再根据测试项目与测试值的预设属性进行分类；及收料管架，具有多组收纳区，以分别收纳经由分类后的已测试元件。 | ||
| 搜索关键词： | 元件 测试 分选 | ||
【主权项】：
1、一种元件测试分选机，其特征在于，包括：振动入料组，具有可容纳待测试元件的料斗，并在该料斗一端延伸一导料管，该导料管末端形成定位架；转盘，其周围环设有数沟槽洞，以依序接收及输送上述定位架的每一待测试元件；用于探测及分类待测试元件的测试系统机构；及收料管架，具有用以分别收纳经由分类后的待测试元件的多组收纳区。
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