[实用新型]电晶体测试模组的压入装置无效
| 申请号： | 200420012526.3 | 申请日： | 2004-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN2733362Y | 公开（公告）日： | 2005-10-12 |
| 发明（设计）人： | 资重兴 | 申请（专利权）人： | 资重兴 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/00 |
| 代理公司： | 长春市四环专利事务所 | 代理人： | 张建成 |
| 地址： | 226500江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种电晶体测试模组的压入装置，其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有至少一驱动装置，本实用新型利用活动架的升降动作，以带动电晶体压框平衡升降，方便将数个电晶体一同置入及取出电晶体测试模组中进行测试工作，提高了测试速度，降低了质量管理成本，还可避免长时间作业所造成的手部红肿或伤害。 | ||
| 搜索关键词： | 电晶体 测试 模组 装置 | ||
【主权项】：
1、一种电晶体测试模组的压入装置，其特征在于：其包括有一电晶体压框、一活动架、一驱动装置，电晶体压框为中空矩形框体，于中空矩形框体两内侧壁分别设有数个对应电晶体测试模组的突块，活动架为驱动电晶体压框平衡下压的架体，于一端设有至少一枢接部，驱动装置为可产生升降动作的装置，电晶体压框以其至少一侧的中间部与活动架枢接，活动架一端的枢接部枢设于其它设备处，活动架另一端设有驱动装置。
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