[实用新型]用于测试贴片集成电路的适配器结构无效

专利信息
申请号: 200420015309.X 申请日: 2004-02-06
公开(公告)号: CN2674458Y 公开(公告)日: 2005-01-26
发明(设计)人: 段超毅 申请(专利权)人: 段超毅
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06;G01R31/08;G01R31/28
代理公司: 深圳睿智专利事务所 代理人: 陈鸿荫
地址: 518103广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 一种用于测试贴片集成电路的适配器结构,包括下板(2)、与该下板(2)匹配的上盖组件(1)、以及探针(4),所述下板(2)中间装有集成电路定位板(21)和限位板(22),该限位板(22)和下板(2)均与测试线路板固定,所述定位板(21)与限位板(22)固定或活动连接,在该限位板(22)和定位板(21)上有与被测集成电路各导电点之间脚距相同的通孔,所述各探针(4)的尾端穿越所述定位板(21)和限位板(22)上的各通孔与测试线路板电连接;将被测集成电路置于所述定位板(21)中,被测集成电路的各导电点与所述各探针(4)的头端电连接,从而通过探针(4)可完成对被测集成电路各导电点的测试。本实用新型适配器结构具有生产成本低、使用寿命长和测试精度高的技术效果。
搜索关键词: 用于 测试 集成电路 适配器 结构
【主权项】:
1.一种用于测试贴片集成电路的适配器结构,包括下板(2)、与该下板(2)匹配的上盖组件(1)以及探针(4),其特征在于:所述下板(2)中间装有集成电路定位板(21),其下还有限位板(22),该限位板(22)和下板(2)均与测试线路板固定,所述定位板(21)与限位板(22)固定或活动连接,在该限位板(22)和定位板(21)上有与被测集成电路各导电点之间脚距相同的通孔,所述各探针(4)的尾端穿越所述定位板(21)和限位板(22)上的各通孔与测试线路板电连接;将被测集成电路置于所述定位板(21)中,被测集成电路的各导电点与所述各探针(4)的头端电连接,从而通过探针(4)可完成对被测集成电路各导电点的测试。
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