[实用新型]一种金属薄带厚度的测量装置无效

专利信息
申请号: 200420021908.2 申请日: 2004-04-12
公开(公告)号: CN2684144Y 公开(公告)日: 2005-03-09
发明(设计)人: 严惠民;杜艳丽;施柏煊 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 代理人: 林怀禹
地址: 310027浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种金属薄带厚度的测量装置。将被测金属薄带放置在两个迈克尔逊干涉仪之间,被测金属薄带的两个对应表面分别作为每个干涉仪中的一个反射面;这两个迈克尔逊干涉仪串联组成差分干涉系统;一个低相干度光源经第一传光系统照射至第一个迈克尔逊干涉仪,第一个迈克尔逊干涉仪的输出光经第二传光系统作为光源照射至第二个迈克尔逊干涉仪,第二个迈克尔逊干涉仪的输出光经第三传光系统被光电接收器接收,经信号处理器处理得被测薄带的厚度。本实用新型这种差分测量方法具有测量灵敏度高,抗振动等优点。适合那些不透明,两面都有较高光学反射率、无基底支撑或透明基底支撑的极薄带材的厚度测量。
搜索关键词: 一种 金属 厚度 测量 装置
【主权项】:
1.一种金属薄带厚度的测量装置,其特征在于包括低相干度光源、第一个迈克尔逊干涉仪、第二个迈克尔逊干涉仪、第一、第二、第三传光系统,光电接收器,信号处理器;第一个迈克尔逊干涉仪、第二个迈克尔逊干涉仪对称放置在被测金属薄带的两侧,一个低相干度光源经第一传光系统照射至第一个迈克尔逊干涉仪中的分光器,干涉光经第二传光系统至第二个迈克尔逊干涉仪中的分光器,干涉光经第三传光系统、光电接收器接至信号处理器。
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