[实用新型]直流光强主动抗振移相干涉仪无效

专利信息
申请号: 200420025467.3 申请日: 2004-03-17
公开(公告)号: CN2679644Y 公开(公告)日: 2005-02-16
发明(设计)人: 朱日宏;陈磊;吴栋;何勇;王青;高志山;乌兰图雅;吴子明 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01B9/021 分类号: G01B9/021
代理公司: 南京理工大学专利中心 代理人: 朱显国
地址: 210094*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型涉及一种直流光强主动抗振移相干涉仪。包括激光器、扩束系统、第一、第二、第三分光器、标准参考镜、测试件、聚焦对点系统、电子摄像头、变焦变倍成像系统、成象CCD,第一分光器干涉场出射方向上设置第二分光器,第二分光器将干涉场分成两部分,一部分被单点光电探测器接收,另一部分进入成像系统;光电探测器与反馈信号发生器、反馈信号发生器与PZT控制器、PZT控制器与PZT移相器连接;PZT移相器与标准参考镜连接;计算机与成象CCD、摄像头、反馈信号发生器相连。本实用新型控制PZT移相器对光波波前相位进行实时反馈补偿,可获得稳定的干涉图样,改变波前相位预设值可实现移相测量,仪器处于闭环工作状态。
搜索关键词: 流光 主动 抗振移 相干
【主权项】:
1、一种直流光强主动抗振移相干涉仪,包括激光器[1]、扩束系统[2]、第一分光器[3]、第二分光器[17]、第三分光器[14]、标准参考镜[4]、测试件[6]、聚焦对点系统[13]、CMOS电子摄像头[12]、变焦变倍成像系统[15]、成象CCD[16],激光器[1]发出的窄细激光束经扩束系统[2]成为有一定口径的平行光束,平行光束进入第一分光器[3],一部分直透至测试件[6],一部分反射至标准参考镜[4],从测试件[6]返回的光束被第一分光器[3]反射,从标准参考镜[4]返回的光束透过第一分光器[3],这两束光相互干涉形成干涉场,其特征在于:在第一分光器[3]的干涉场出射方向上设置第二分光器[17],第二分光器[17]将干涉场分成两部分,一部分被单点光电探测器[11]接收,另一部分进入成像系统;光电探测器[11]设置于涉场中任意一点,其光敏面正对干涉场;光电探测器[11]与反馈信号发生器[9]、反馈信号发生器[9]与PZT控制器[7]、PZT控制器[7]与PZT移相器[5]均用导线相连接;PZT移相器[5]与标准参考镜[4]连接;进入成像系统的干涉场被第三分光器[14]分成两部分,一部分进入由聚焦对点系统[13]和CMOS电子摄像头[12]组成的对点成象系统,另一部分进入由变焦变倍成象系统[15]和成象CCD[16]组成的干涉图成象系统;计算机[10]与成象CCD[16]、CMOS摄像头[12]、反馈信号发生器[9]用导线相连。
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