[实用新型]非接触集成电路卡物理损伤鉴别装置无效
申请号: | 200420037249.1 | 申请日: | 2004-07-06 |
公开(公告)号: | CN2708305Y | 公开(公告)日: | 2005-07-06 |
发明(设计)人: | 俞军 | 申请(专利权)人: | 上海复旦微电子股份有限公司 |
主分类号: | G01N22/02 | 分类号: | G01N22/02;G01N22/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 衷诚宣 |
地址: | 200433上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型提供一种非接触集成电路卡物理损伤鉴别装置,其包含发射天线、频率信号发生驱动电路、比较判断电路和结果显示电路;该发射天线电路连接频率信号发生驱动电路;该频率信号发生驱动电路产生待测非接触集成电路卡的工作频率信号,并将该工作频率信号传递给发射天线;该发射天线还有一输出端连接比较判断电路;该比较判断电路的输出端还连接结果显示电路。在发射天线和比较判断电路之间,还可连接有高频整流电路。其通过检测无源的非接触IC卡在工作中消耗的能量来判断该非接触IC卡是否是物理损坏还是电学损坏。 | ||
搜索关键词: | 接触 集成 路卡 物理 损伤 鉴别 装置 | ||
【主权项】:
1.一种非接触集成电路卡物理损伤鉴别装置,其包含发射天线、频率信号发生驱动电路、比较判断电路和结果显示电路;特征在于,该发射天线电路连接频率信号发生驱动电路;该频率信号发生驱动电路产生待测非接触集成电路卡的工作频率信号,并将该工作频率信号传递给发射天线;该发射天线还有一输出端连接比较判断电路;该比较判断电路的输出端电路连接结果显示电路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海复旦微电子股份有限公司,未经上海复旦微电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200420037249.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。