[实用新型]测量工具无效

专利信息
申请号: 200420074102.X 申请日: 2004-09-06
公开(公告)号: CN2727690Y 公开(公告)日: 2005-09-21
发明(设计)人: 郭嘉宏;潘隆智 申请(专利权)人: 明基电通股份有限公司
主分类号: G01B5/004 分类号: G01B5/004;G01B5/02
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 李宗明;杨梧
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种测量工具,用以测量待测物的尺寸。该测量工具包括基座、定位区域、施压装置以及量测装置。基座用以承载待测物。定位区域形成于基座上,用以定位待测物。施压装置用以提供预定压力。该预定压力沿第一方向施加于待测物。量测装置用以沿第二方向对待测物进行量测,第二方向与第一方向基本上垂直。其中,当待测物定位于定位区域后,预定压力施加于待测物,使量测装置得以精准地测量待测物的尺寸。
搜索关键词: 测量 工具
【主权项】:
1.一种测量工具,用以测量一待测物的尺寸,其特征在于:该测量工具包括:一基座;一定位区域,该定位区域形成于该基座上,用以定位该待测物于该基座上;一施压装置,该施压装置设置于该基座上,用以施加一预定压力于该待测物;以及一量测装置,该量测装置设置于该基座上,该量测装置具有一第一伸缩杆,用以抵触该待测物,使该量测装置得以测量该待测物的尺寸;其中,当施加该预定压力于该待测物上以量测该待测物时,可避免该待测物产生位移或变形,以提高量测时的精准度。
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