[实用新型]粗糙度轮廓仪无效
申请号: | 200420082240.2 | 申请日: | 2004-08-26 |
公开(公告)号: | CN2735300Y | 公开(公告)日: | 2005-10-19 |
发明(设计)人: | 陈建敏;孙宪政 | 申请(专利权)人: | 上海泰勒精密仪器制造有限公司 |
主分类号: | G01B5/20 | 分类号: | G01B5/20;G01B5/28 |
代理公司: | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人: | 翁若莹 |
地址: | 200125上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型涉及一种粗糙度轮廓仪,由立柱、驱动箱、底座、工作台、测量头、升降套组成,立柱垂直置于底座的一端,升降套置于立柱上,驱动箱置于升降套的侧面,可随升降套在立柱上垂直移动,工作台置于底座上,可水平左右移动,测量头置于驱动箱一侧下端的测杆内,向着工作台,可水平左右移动,其特征在于,所述的驱动箱为可拆卸的驱动箱;所述的测量头为可拆卸的测量头。本实用新型的优点是是运输方便,使用范围扩大,测量精度高。 | ||
搜索关键词: | 粗糙 轮廓仪 | ||
【主权项】:
1.一种粗糙度轮廓仪,由立柱(1)、驱动箱(2)、底座(3)、工作台(4)、测量头(5)、升降套(6)组成,立柱(1)垂直置于底座(3)的一端,升降套(6)置于立柱(1)上,驱动箱(2)置于升降套(6)的侧面,可随升降套(6)在立柱(1)上垂直移动,工作台(4)置于底座(3)上,可水平左右移动,测量头(5)置于驱动箱(2)一侧下端的测杆(7)内,向着工作台(4),可水平左右移动,其特征在于,所述的驱动箱(2)为可拆卸的驱动箱(2);所述的测量头(5)为可拆卸的测量头(5)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海泰勒精密仪器制造有限公司,未经上海泰勒精密仪器制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200420082240.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。