[实用新型]粗糙度轮廓仪无效

专利信息
申请号: 200420082240.2 申请日: 2004-08-26
公开(公告)号: CN2735300Y 公开(公告)日: 2005-10-19
发明(设计)人: 陈建敏;孙宪政 申请(专利权)人: 上海泰勒精密仪器制造有限公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20;G01B5/28
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 翁若莹
地址: 200125上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种粗糙度轮廓仪,由立柱、驱动箱、底座、工作台、测量头、升降套组成,立柱垂直置于底座的一端,升降套置于立柱上,驱动箱置于升降套的侧面,可随升降套在立柱上垂直移动,工作台置于底座上,可水平左右移动,测量头置于驱动箱一侧下端的测杆内,向着工作台,可水平左右移动,其特征在于,所述的驱动箱为可拆卸的驱动箱;所述的测量头为可拆卸的测量头。本实用新型的优点是是运输方便,使用范围扩大,测量精度高。
搜索关键词: 粗糙 轮廓仪
【主权项】:
1.一种粗糙度轮廓仪,由立柱(1)、驱动箱(2)、底座(3)、工作台(4)、测量头(5)、升降套(6)组成,立柱(1)垂直置于底座(3)的一端,升降套(6)置于立柱(1)上,驱动箱(2)置于升降套(6)的侧面,可随升降套(6)在立柱(1)上垂直移动,工作台(4)置于底座(3)上,可水平左右移动,测量头(5)置于驱动箱(2)一侧下端的测杆(7)内,向着工作台(4),可水平左右移动,其特征在于,所述的驱动箱(2)为可拆卸的驱动箱(2);所述的测量头(5)为可拆卸的测量头(5)。
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