[实用新型]测试同步辐射源空间相干性的X射线干涉仪无效
| 申请号： | 200420082614.0 | 申请日： | 2004-09-07 |
| 公开（公告）号： | CN2727714Y | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | 高鸿奕;陈建文;朱化凤;李儒新;徐至展 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种测试同步辐射源空间相干性的X射线干涉仪，其特点是它由X射线源、两块平面玻璃板、样品和探测器组成，在X射线源的X射线前进的方向上，略入射地放置两块平面玻璃板，该两平面玻璃板的夹角为1″，这两块平面玻璃板分别反射X射线，其中一束反射的X射线经样品后，再与另一束反射的X射线相交并相互干涉后，用探测器进行检测。本实用新型具有结构简单、成本低、使用可靠的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 同步 辐射源 空间相干性 射线 干涉仪 | ||
【主权项】：
1、一种测试同步辐射源空间相干性的X射线干涉仪，其特征在于它由X射线源(1)、玻璃板(2)、玻璃板(3)、样品(4)和探测器(5)组成：在X射线源(1)的X射线前进的方向上，设置成略入射地放置两块平面玻璃板(2)和玻璃板(3)，该平面玻璃板(2)和玻璃板(3)的夹角为1″，这两块平面玻璃板(2)和玻璃板(3)反射X射线，其中一束反射的X射线经样品(4)后，再与另一束反射的X射线相交并相互干涉后，用探测器(5)进行检测。
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