[实用新型]封装级可靠性模型参数提取系统无效
| 申请号： | 200420083041.3 | 申请日： | 2004-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN2755619Y | 公开（公告）日： | 2006-02-01 |
| 发明（设计）人： | 章晓文;韩孝勇 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所;西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28;H01L21/66 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 | 代理人： | 温旭 |
| 地址： | 510610广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种封装级可靠性模型参数提取系统，主要包括微机和测试系统，微机用于采集和分析数据，测试系统包括电源、采集系统、电流/电压输入输出接口及总电源卡开关，该系统可同时测试多个样品，并可对多个样品的测试通道，应力的属性，失效判据等进行设置，在测试结束后通过微机内测试软件在Windows界面下对样品的采样情况和失效情况进行数据拟和分析，提取样品的可靠性模型参数。 | ||
| 搜索关键词： | 封装 可靠性 模型 参数 提取 系统 | ||
【主权项】：
1.一种封装级可靠性模型参数提取系统，其主要包括微机和测试系统，其特征在于：测试系统包括电源、采集系统，参数测试选择键、电流/电压输入输出接口及总电源卡开关，其中，所述采集系统为一失效采集控制系统，包括并列插接在电路板上的SC-11020过程控制板、采集控制板、开入开出板及总线发送接收板。
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