[实用新型]光学扫描装置及使用它的成像装置无效

专利信息
申请号: 200420087789.0 申请日: 2004-08-13
公开(公告)号: CN2762188Y 公开(公告)日: 2006-03-01
发明(设计)人: 田丸靖 申请(专利权)人: 兄弟工业株式会社
主分类号: G03G15/00 分类号: G03G15/00;H04N1/04;G02B26/10
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 实用新型提供了一种光学扫描装置,包括:底板,其具有第一表面和与之相对的第二表面;安装在该第一表面上的光源;安装在该第一表面上的反射体,以偏转和扫描光源发射的光束;安装在该第一表面上的聚光透镜;安装在底板上的基板,在底板和基板之间设有聚光透镜,基板基本平行于底板,并具有第一基板表面和与之相对的第二基板表面,第二基板表面面对底板第一表面;安装在第二基板表面上的同步检测元件,以接收被反射体偏转并通过聚光透镜的光进行成像同步检测;和安装在第一基板表面上以控制光源的电路元件。由于改善了空间布局,因此本实用新型结构便于将电路元件布置在第一基板表面上,并且可将光学扫描装置设计得很紧凑。
搜索关键词: 光学 扫描 装置 使用 成像
【主权项】:
1、一种光学扫描装置,其包括:底板,其具有第一表面和与第一表面相对的第二表面;发射光束的光源,其安装在底板的第一表面上;安装在底板的第一表面上的反射体,所述反射体偏转和扫描从光源发射的光束;以及聚光透镜,其安装在底板的第一表面上;其特征在于还包括:安装在底板上的基板,在所述底板和所述基板之间放置聚光透镜,所述基板基本上与底板平行延伸,所述基板具有第一基板表面和与第一基板表面相对的第二基板表面,基板的所述第二基板表面面对着底板的第一表面;安装在基板的第二基板表面上的同步检测元件,所述同步检测元件接收被反射体偏转并通过了聚光透镜的光来进行成像的同步检测;和安装在基板的第一基板表面上的电路元件,所述电路元件控制光源。
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