[实用新型]模块化蓝光光存储性能测试装置无效

专利信息
申请号: 200420090064.7 申请日: 2004-09-15
公开(公告)号: CN2729697Y 公开(公告)日: 2005-09-28
发明(设计)人: 高秀敏;徐文东;干福熹;周飞;张锋;杨金涛 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/62;G11B7/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种模块化蓝光光存储性能测试装置,采用模块化设计,由激光调制模块、控制解调模块、光电探测模块、光点扫描模块和观察显微模块构成。本实用新型装置可以对蓝光光存储材料存储特性的进行静态和准动态测试。采用调制解调技术排除外界光干扰。纳米光点扫描方式提高记录点的重复定位精度。具有易于扩充升级、维护方便和读出精度高的特点。
搜索关键词: 模块化 光光 存储 性能 测试 装置
【主权项】:
1、一种模块化蓝光光存储性能测试装置,其特征在于它由激光调制模块(1)、控制解调模块(2)、光电探测模块(3)、光点扫描模块(4)和观察显微模块(6)构成:所述的激光调制模块(1)包括激光器(101),置于该激光器(101)光出射方向上依次是激光调制器(102)、小孔(105)和扩束镜(103),与该激光调制器(102)相连的激光调制控制器(104);所述的控制解调模块(2)包括信号发生器(201)、系统控制器(202)、和解调电路板(203),该信号发生器(201)分别与光调制器控制器(104)和解调电路板(203)相连,该系统控制器(202)的输出分别与信号发生器(201)、光点扫描模块(4)的扫描器(401)相连,该解调电路板(203)的输出接系统控制器(202);所述的光点探测模块(3)包括光电探测器(301)和置于扩束镜(103)光出射方向上的偏振分光镜(302),该偏振分光镜(302)的反射光路上置有四分之一波片(303),四分之一波片(303)的长轴方向与入射偏振光偏振方向成45°,扩束镜(103)出射的线偏振光被偏振分光镜(302)反射后,经过四分之一波片(303)转化为圆偏振光,射向观察显微模块(6)中的光谱分光镜(602),光谱分光镜(602)对于工作波长蓝光具有高反射率,对于其他波长光为高透射率,在激光光束被光谱分光镜(602)反射的反射光前进方向上置有光点扫描模块(4);该光点扫描模块(4)包括对称轴重合的扫描器(401)和显微物镜(402),激光光束经过扫描器(401)和显微物镜(402)聚焦在样品(5)上,反射回来的光束再经过光点扫描模块(4)、光谱分光镜(602)、四分之一波片(303)转化为线偏振光,且偏振方向与激光器(101)出射激光的偏振方向成90°,所以该光束透过偏振分光镜(302)射在光电探测器(301)上,该探测器(301)的输出端与所述的解调电路板(203)的输入端相连;所述的观察显微模块(6)还包括白光光源(601),置于该白光光源(601)光出射方向上的白光分光镜(603)和图像采集器(604),所述的图像采集器(604)、白光分光镜(603)、光谱分光镜(602)和显微物镜(402)同光轴,该图像采集器(604)与系统控制器(202)相连。
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