[实用新型]集成同轴式微波检波器无效

专利信息
申请号: 200420108665.6 申请日: 2004-11-09
公开(公告)号: CN2742451Y 公开(公告)日: 2005-11-23
发明(设计)人: 刘甫坤 申请(专利权)人: 中国科学院等离子体物理研究所
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 安徽合肥大夏专利事务所 代理人: 季晟
地址: 230061*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 实用新型涉及的是微波技术领域里的微波晶体检波器,确切地说是一种集成同轴式微波检波器,其输入同轴端口(L16)的内外导体上分别串接有隔直高通滤波电路,高通滤波电路后面串接∏型功率衰减网络,上述衰减网络后面连接检波晶体(D1)及其阻抗匹配网络,检波晶体(D1)输出的微弱信号再送到低频放大器(A)的输入端口;上述所有的电路被集中放置在一只金属屏蔽盒(1)内,低频放大器(A)的输出信号由安装(Q9)接头输出,待测的微波信号经由(L16)射频接头输入。本实用新型可以单独组成微波功率测量系统,安装使用比较方便,另外所述集成同轴式微波检波器所有部件都封装于屏蔽盒内,具有良好的机械稳定性和很好的抗空间干扰性能。
搜索关键词: 集成 同轴 式微 检波器
【主权项】:
1.本实用新型涉及的一种集成同轴式微波检波器,其特征在于:所述集成同轴式微波检波器的输入同轴端口(L16)的内外导体上分别串接有一只能耐3000V-6000V直流电压的微波电容器(C1、C2),构成隔直高通滤波电路;所述高通滤波电路后面串接由五只微波电阻器(R1、R2、R3、R4、R5)构成的∏型功率衰减网络,将输入的待检测微波信号的功率衰减至适合检波晶体(D1)正常工作的区间内;所述衰减网络后面连接检波晶体(D1)及其阻抗匹配网络,检波晶体(D1)输出的微弱信号再送到低频放大器(A)的输入端口,由低频放大器(A)将该信号放大到能直接被计算机或其他采集、控制器件要求的电平范围内;上述所有的电路被集中放置在一只金属屏蔽盒(1)内,低频放大器(A)的输出信号由安装在屏蔽盒(1)壳体一端的(Q9)接头输出,待测的微波信号经由安装在屏蔽盒(1)壳体另一端上的(L16)射频接头输入。
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