[实用新型]外露型薄膜探针无效
| 申请号： | 200420115624.X | 申请日： | 2004-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN2752774Y | 公开（公告）日： | 2006-01-18 |
| 发明（设计）人： | 郑秋雄 | 申请（专利权）人： | 环国科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨;贺华廉 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型是一种外露型薄膜探针，用来测试具阵列导电接点结构的组件，每一组件上设置有数个导电接点，外露型薄膜探针包括一薄膜结构，其表面上设置有数导电条，导电条一端设置于薄膜结构一侧上，且在每一导电条上设置有一导电区，其由数导电凸块组成，导电区提供连接一测试机，而导电条另一端延伸出薄膜结构另一侧外，并与每一导电接点接触，以利用测试机测试具阵列导电接点结构的组件。本实用新型将导电条延伸至薄膜结构表面外，可应用于测试具阵列导电接点结构的组件，并可减少测试时间与成本，使得测试简易化。 | ||
| 搜索关键词： | 外露 薄膜 探针 | ||
【主权项】：
1、一种外露型薄膜探针，供连接一测试机，用以测试具阵列导电接点结构的组件，该组件上设置数个导电接点，该外露型薄膜探针包括薄膜结构，其表面上设置有数个导电条，其特征在于：每一导电条一端设置于该薄膜结构一侧上，且每一导电条上设置有一导电区，其由数个导电凸块组成，该导电区供连接该测试机，且导电条另一端延伸至该薄膜结构另一侧外，用以与该组件上的每一导电接点相接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于环国科技股份有限公司，未经环国科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200420115624.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
