[实用新型]测试用的薄膜探针无效
| 申请号： | 200420122236.4 | 申请日： | 2004-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN2762143Y | 公开（公告）日： | 2006-03-01 |
| 发明（设计）人： | 郑秋雄 | 申请（专利权）人： | 环国科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 孙皓晨;贺华廉 |
| 地址： | 中国*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型是一种测试用的薄膜探针，包括：一薄膜结构；数个导电条，其设置于该薄膜结构表面上，以连接外部测试信号；数个导电区，其设置于该薄膜结构表面上，且每二个导电区分别相对设置于每一该导电条的二端，每一该导电区包含数个导电部，这些导电部与该这些导电条形成电连接且通过这些导电条输入外部测试信号并与电子产品的该金手指状接点相接触。导电部通过导电条输入外部测试信号并与金手指状接点相接触以达到测试效果。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 薄膜 探针 | ||
【主权项】：
1、一种测试用的薄膜探针，其特征在于包括：一薄膜结构；数个导电条，其设置于该薄膜结构表面上，以连接外部测试信号；以及数个导电区，其设置于该薄膜结构表面上，且每二个导电区分别相对设置于每一该导电条的二端，每一该导电区包含数个导电部，这些导电部与该这些导电条形成电连接且通过这些导电条输入外部测试信号并与电子产品的该金手指状接点相接触。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于环国科技股份有限公司，未经环国科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200420122236.4/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种扭矩绞槽刀及建筑件上的锚固孔
- 下一篇：单井计量数据采集仪
