[发明专利]半导体器件及其制造方法有效
申请号: | 200480000058.0 | 申请日: | 2004-01-16 |
公开(公告)号: | CN1698198A | 公开(公告)日: | 2005-11-16 |
发明(设计)人: | 三原一郎;若林猛;城户利浩;定别当裕康;吉野裕;影山信之;河野大太;吉泽润 | 申请(专利权)人: | 卡西欧计算机株式会社;CMK株式会社 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/485 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人: | 刘炳胜 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种半导体器件,包括至少一个半导体构件(3),该半导体构件(3)具有形成在半导体衬底(5)上的多个外部连接电极(6)。绝缘部件(14、14A)设置在半导体构件(3)的一侧上。上部互连(17、54)具有连接焊盘部分,所述连接焊盘部分设置在对应上部互连的绝缘板件(14、41A)上并连接到半导体构件(3)的外部连接电极(6)上。 | ||
搜索关键词: | 半导体器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1、一种半导体器件,其特正在于包括:至少一个半导体构件(3),具有一个半导体衬底(5)和形成在半导体衬底上的多个外部连接电极(6);设置在半导体构件(3)一侧上的绝缘板件(14、14A);和具有多个连接焊盘部分的多个上部互连(17、54),其中连接焊盘部分设置在绝缘板件(14、14A)上并对应上部互连,并电连接到半导体构件(3)的外部连接电极(6)。
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