[发明专利]处理被处理基板的半导体处理方法和装置有效
申请号: | 200480000802.7 | 申请日: | 2004-02-04 |
公开(公告)号: | CN1701133A | 公开(公告)日: | 2005-11-23 |
发明(设计)人: | 古屋治彦;两角友一朗;池川宽晃;平山诚;伊藤勇一 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种在半导体处理装置(1)中处理被处理基板(10)的方法,在处理容器(2)内一边将第一基板(10)的温度控制在处理温度上一边将处理气体供给所述处理容器内,对所述第一基板进行半导体处理。在所述半导体处理中,在所述处理容器(2)的内面上形成副产物膜。在所述半导体处理后并且从所述处理容器(2)取出所述第一基板(10)后,将改质气体供给所述处理容器内,对所述副产物膜进行改质处理。所述改质处理是以降低所述副产物膜的热反射性的方式进行设定的。在所述改质处理后,在所述处理容器(2)内一边将第二基板(10)的温度控制在所述处理温度上一边将所述处理气体供给所述处理容器内,对所述第二基板进行所述半导体处理。 | ||
搜索关键词: | 处理 半导体 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种在半导体处理装置中处理被处理基板的方法,其特征在于:它具备,在处理容器内一边将第一基板的温度控制在处理温度上一边将处理气体供给所述处理容器内,对所述第一基板进行半导体处理的工序,在所述半导体处理中,在所述处理容器的内面上形成副产物膜;在所述半导体处理后,并且从所述处理容器取出所述第一基板后,将改质气体供给所述处理容器内,对所述副产物膜进行改质处理的工序,所述改质处理是以降低所述副产物膜的热反射性的方式进行设定的;和在所述改质处理后,在所述处理容器内一边将第二基板的温度控制在所述处理温度上一边将所述处理气体供给所述处理容器内,对所述第二基板进行所述半导体处理的工序。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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