[发明专利]露点测量方法和用于执行所述方法的装置有效

专利信息
申请号: 200480001004.6 申请日: 2004-05-25
公开(公告)号: CN1701227A 公开(公告)日: 2005-11-23
发明(设计)人: 亚历山大·米哈伊洛维奇·杰列维亚金;亚历山大·谢尔盖耶维奇·福明;谢尔盖·维克托罗维奇·谢列兹尼奥夫 申请(专利权)人: 亚历山大·米哈伊洛维奇·杰列维亚金
主分类号: G01N21/21 分类号: G01N21/21;G01N25/66;G01N21/81
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 刘晓峰
地址: 俄罗斯*** 国省代码: 俄罗斯;RU
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摘要: 发明涉及测量工程。为了通过提高灵敏度而增加精度,对于本发明的露点测量方法,在入射平面内偏振的光通量被使用,并在没有凝结物的情况下以光通量不从冷却元件的凝结表面反射的角度朝向绝缘介质冷却元件的凝结表面定向。
搜索关键词: 露点 测量方法 用于 执行 方法 装置
【主权项】:
1、一种用于露点测量的方法,包括将被研究的气体提供至具有凝结表面的冷却元件上,光通量定向至所述冷却元件上并记录从凝结表面反射的光通量值,基于记录值确定露点的出现,其特征在于,使用了在其入射平面内偏振的光通量,且其被定向至冷却元件凝结表面上的角度被选择,这样从由绝缘介质所形成的冷却元件的凝结表面上在没有凝结物时没有光通量的反射。
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