[发明专利]光学双馈送检测有效

专利信息
申请号: 200480001105.3 申请日: 2004-03-02
公开(公告)号: CN1701032A 公开(公告)日: 2005-11-23
发明(设计)人: 汗斯约里·克洛克;彼得·迪尔温·埃文斯;若埃勒·埃格尔 申请(专利权)人: 德拉鲁国际公司
主分类号: B65H7/12 分类号: B65H7/12
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 马浩
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 在一处理货币或其他片状物的仪器(1)中,货币被沿着一条传输路径传送,在那里经过传感装置(5)。通过对货币进行照射并以高分辨率测量透射光和反射光的光强,货币的透射和反射图像被捕获到。基于这些图像,实现对货币的验证(6)。验证之后,通过用二维估算对预定义的测试点组进行透射和反射光强度的估算,执行一个双馈送检测(7)。如果判定为双馈送,则该货币被拒绝(3.1)。否则,货币被接受并进行下一步处理(3.2)。由于与已知的双纸张检测方法相比,本发明采用了多维的估算方法,因此对不同污损程度的货币也能够进行可靠的双纸张检测。
搜索关键词: 光学 馈送 检测
【主权项】:
1.一种在用于处理一种或多种片状物尤其是货币的仪器中进行光学双馈送检测的方法,其特征在于所述片状物被照射,通过测量穿过所述多个片状物中的一个特定片状物的多个区域的透射光强,产生所述特定片状物的透射图像,以及通过测量从所述特定片状物的所述区域反射的反射光强,产生一个反射图像,其中,所述双馈送是通过一种二维估算方法来进行检测的,所述二维估算方法中的第一维由所述透射光强形成,所述二维估算方法中的第二维由所述反射光强形成,其中二维估算方法进一步包括确定所述点在所述二维空间中的位置,以及将所述位置与一个线性判定边界相比较。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于德拉鲁国际公司,未经德拉鲁国际公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480001105.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top