[发明专利]利用动态参数测试检测滑块－磁盘干扰有效
| 申请号： | 200480002087.0 | 申请日： | 2004-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN1735813A | 公开（公告）日： | 2006-02-15 |
| 发明（设计）人： | L·－Y·朱;X·－F·张;Y·付;E·T·查 | 申请（专利权）人： | 新科实业有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;梁永 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香*** | 国省代码： | 中国香港;81 |
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| 摘要： | 描述一种利用动态参数测试来计算磁头磁盘干扰(HDI)的方法。在一个实施例中，基于滑块/磁头的读回信号磁道分布的实际和理想灵敏度分布来计算HDI。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 动态 参数 测试 检测 磁盘 干扰 | ||
【主权项】：
1.一种测量磁头磁盘干扰的方法，所述方法包括：在用于记录数据的磁盘上横过磁道的多个半径位置上产生对于磁头的磁道分布；从所述磁道分布产生灵敏度分布；从所述磁道分布产生理想灵敏度分布；基于所述灵敏度和理想灵敏度分布，确定所述磁头相对于所述磁道的磁道配准不良分布。
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