[发明专利]半导体装置无效
申请号: | 200480002478.2 | 申请日: | 2004-11-19 |
公开(公告)号: | CN1739239A | 公开(公告)日: | 2006-02-22 |
发明(设计)人: | 国谷久雄;谷川悟;薗部浩之;影山敦久 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H03K5/13 | 分类号: | H03K5/13;H03K5/26;H04N5/04 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 吴丽丽 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的半导体装置不是瞬时切换时钟,而是以使前基准信号的相位状态和现基准信号的相位状态一致的方式逐个地使延迟单元移相,以最大N+1/N个时钟(N为大于等于2的整数)切换时钟,使时钟正确地与基准信号同步,使输出时钟的DUTY保持一定。如果根据这种本发明的半导体装置,则当输入基准信号不与时钟同步的信号,对于该基准信号的上升沿进行重置时,能够防止时钟的DUTY不连续。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,该半导体装置由N段的延迟元件使输入时钟以每1/N时钟相移一次,从该各延迟元件输出的时钟中,由选择器选择与基准信号最同步的时钟作为同步时钟进行输出,其特征在于:它备有,根据上述每1/N时钟相移一次后的时钟和现基准信号的相位差、及上述每1/N时钟相移一次后的时钟和上述现基准信号的1行前的前基准信号的相位差,检测现基准信号和前基准信号的相位状态的基准信号相位检测电路;将由上述基准信号相位检测电路检测出的上述现基准信号和上述前基准信号的相位状态进行比较的比较电路;当由上述比较电路检测出上述现基准信号和上述前基准信号的相位状态不一致时,使上述现基准信号的时钟的相位状态相移使得与上述前基准信号的相位状态一致的相位控制电路;和根据上述相位控制电路的输出控制上述选择器的选择器控制电路。
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