[发明专利]双传导编程期间的模拟浮动栅电压检测有效
申请号: | 200480002892.3 | 申请日: | 2004-01-21 |
公开(公告)号: | CN1751437A | 公开(公告)日: | 2006-03-22 |
发明(设计)人: | W·欧文 | 申请(专利权)人: | 爱克舍股份有限公司 |
主分类号: | H03K5/153 | 分类号: | H03K5/153;H03K5/22 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 张政权 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 公开了一种用于在设置模式期间检测浮动栅电路中一浮动栅上的电压的方法。该方法包括以下步骤:a)使所述浮动栅电路进入一设置模式,其中第一预定电压耦合到浮动栅电路中第二晶体管的栅极;b)使由第一晶体管检测相对于第一电压的浮动栅上的电压;c)由浮动栅电路生成一输出电压;以及d)使浮动栅上的电压修改为输出电压的函数,包括在所述设置模式期间工作在双传导模式下的第一隧道器件和第二隧道器件的控制下、修改所述浮动栅上的电荷水平,所述第一隧道器件在所述浮动栅和第一隧道电极间形成,所述第二隧道器件在所述浮动栅和第二隧道电极间形成;以及e)重复步骤b)到d),直到浮动栅上的电压近似等于第一电压为止。 | ||
搜索关键词: | 传导 编程 期间 模拟 浮动 电压 检测 | ||
【主权项】:
1.一种在电荷在浮动栅电路中被保存在浮动栅上的同时、检测浮动栅上的电压、以便把所述浮动栅编程为一精确电压的方法,所述浮动栅电路包括一差分电路,所述差分电路具有:第一晶体管,它被配置为所述差分电路的反相输入端,所述浮动栅是所述第一晶体管的栅极;第二晶体管,它被配置为所述差分电路的非反相输入端;以及一差分电路输出,所述浮动栅电路还包括从所述输出耦合到所述浮动栅的反馈电路,所述方法包括以下步骤:a)使所述浮动栅电路进入一设置模式,其中一预定电压耦合到所述第二晶体管的栅极;b)使由所述第一晶体管检测相对于所述预定电压的浮动栅上的电压;c)在所述差分电路输出处生成一输出电压;d)使用所述反馈电路,使所述浮动栅上的电压修改为所述输出电压的函数,包括在所述设置模式期间工作在双传导模式下的第一隧道器件和第二隧道器件的控制下、修改所述浮动栅上的电荷水平,所述第一隧道器件在所述浮动栅和第一隧道电极间形成,所述第二隧道器件在所述浮动栅和第二隧道器件间形成;以及e)重复步骤b)到d),直到所述浮动栅电路稳定到一稳态条件,使得所述浮动栅上的电压近似等于所述第一电压。
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