[发明专利]在一液晶显示器(LCD)制造过程中用于监视、预测和最佳化生产产生率的系统和方法无效
| 申请号： | 200480003190.7 | 申请日： | 2004-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN101410749A | 公开（公告）日： | 2009-04-15 |
| 发明（设计）人： | 钟相勇 | 申请（专利权）人： | 伊尔德博斯特技术公司 |
| 主分类号： | G02F1/1362 | 分类号： | G02F1/1362;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王允方 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明揭示一种用于监视LCD生产产生率、预测不同测试方法对LCD生产产生率的影响、最佳化生产产生率、及检测TFT阵列面板中的缺陷的系统与方法，所述系统与方法在LCD测试与装配过程中，可以比较不同测试方法对不同阶段产生率的影响。本发明也可以用来预测不同测试方法对用户定义参数(如利润)的影响。本发明也可以提高的缺陷检测精确度来检测TFT阵列面板中的缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶显示器 lcd 制造 过程 用于 监视 预测 最佳 化生 产生 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于估计从一当前液晶显示器(LCD)制造设定改变为一新的LCD制造设定的利润影响的系统，其中所述当前LCD制造设定与所述新的LCD制造设定各包含一阵列测试阶段和一阵列修复阶段，所述系统包含：一用于比较数个当前电极阵列面板与数个新电极阵列面板以产生第一比较数据的比较单元；和一用于根据所述第一比较数据估计所述新的LCD制造设定的利润影响的估计单元；其中所述当前电极阵列面板数对应于输入到具有所述当前LCD制造设定的所述阵列修复阶段的电极阵列面板数，且所述新电极阵列面板数对应于输入到所述新LCD制造设定的所述阵列修复阶段的电极阵列面板数。
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