[发明专利]电子电路的测试有效
| 申请号： | 200480004394.2 | 申请日： | 2004-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN1751245A | 公开（公告）日： | 2006-03-22 |
| 发明（设计）人： | R·F·舒特尔特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;王忠忠 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于电子电路中的多个集成电路具有功能互连和专门的测试连接。集成电路接收和传送同步信息，比如从一个集成电路至另一集成电路地连续通过所述链的时钟信号。这允许高测试速度。优选地，同步信息与测试数据、测试结果和/或命令串行。优选地，通过经所述链传送的命令可以编程所述链中的连续集成电路之间的比特率。这样，不同的比特率可以在沿着所述链的不同位置处，以减小由沿着所述链的同步信号招致的延迟。 | ||
| 搜索关键词： | 电子电路 测试 | ||
【主权项】：
1、一种电子电路(11)，包括：-多个集成电路(12、14)，每一个集成电路包括测试控制电路(142)，其可以在测试模式和正常操作模式之间切换；-集成电路(12、14)之间的功能连接(16)；-除功能连接(16)之外的并形成包括集成电路(12、14)的链的测试通信(18、1146、148、19)连接，集成电路(12、14)被设置成通过所述链从一个集成电路(12、14)至另一个集成电路连续地接收和传送测试数据、测试结果和/或命令以及同步信息，以用于定时到功能连接(16)的测试数据的输出和来自功能连接(16)的测试结果的捕获。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480004394.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
