[发明专利]等离子加工装置无效
申请号: | 200480004782.0 | 申请日: | 2004-02-20 |
公开(公告)号: | CN1751384A | 公开(公告)日: | 2006-03-22 |
发明(设计)人: | 山本直子;山本达志;平山昌树;大见忠弘 | 申请(专利权)人: | 夏普株式会社;大见忠弘 |
主分类号: | H01L21/3065 | 分类号: | H01L21/3065 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 沈昭坤 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种等离子加工装置包括:处理室;具有靠谐振形成微波的第1驻波的内部空间(20)的引入波导管(4);在内部靠谐振形成微波的第2驻波的介质(5p、5q);以及具有使微波从内部空间(20)通向介质(5p、5q)用的缝隙(6a)的缝隙天线(6)。缝隙(6a)设置成近似位于将形成第1驻波波腹的位置对于缝隙天线(6)垂直地投影的地点和将形成第2驻波波腹的位置对于缝隙天线(6)垂直地投影的地点一致的地点。根据本发明,能提供一种通过提高穿过缝隙天线开口部的微波的传播效率、从而将微波的能量高效地引入处理室的等离子加工装置。 | ||
搜索关键词: | 等离子 加工 装置 | ||
【主权项】:
1.一种等离子加工装置,其特征在于,包括利用等离子进行处理用的处理室(13);具有靠谐振形成微波的第1驻波的内部空间(20)、并将微波导向所述处理室(13)的微波引入单元(4);为了对所述处理室(13)内辐射微波而在所述处理室(13)和所述微波引入单元(4)之间面向所述内部空间(20)设置的、并在内部靠谐振形成微波的第2驻波的介质(5);以及具有让微波从所述内部空间(20)通向所述介质(5)用的开口部(6a)、并设置成覆盖所述介质(5)面向所述内部空间(20)一侧的缝隙天线(6),所述开口部(6a)设置成大致位于将形成第1驻波波腹的位置对于所述缝隙天线(6)垂直地投影的地点和将形成第2驻波波腹的位置对于所述缝隙天线(6)垂直地投影的地点一致的地点。
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