[发明专利]半导体装置及使用其的放射线检测器无效
申请号: | 200480005003.9 | 申请日: | 2004-02-24 |
公开(公告)号: | CN1754254A | 公开(公告)日: | 2006-03-29 |
发明(设计)人: | 柴山胜己;楠山泰;林雅宏 | 申请(专利权)人: | 浜松光子学株式会社 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60;A61B6/03;G01T1/20;G01T1/24;H01L23/12;H01L27/146 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 使用一体捆扎多条玻璃纤维而形成的、具有贯通孔(20c)的玻璃基板,和由设置在贯通孔(20c)内的导电性部件(21)构成的配线基板(20)。将PD阵列(15)的输出面(15b)上的、与导电性部件(21)一一对应而设置的块状电极(17),连接在形成于该配线基板(20)的输入面(20a)上的导电性部件(21)的输入部(21a),构成半导体装置(5)。然后,将闪烁器(10)经由光学粘接剂(11)连接在PD阵列(15)的光学入射面(15a)上,并将信号处理元件(30)经由块状电极(31)连接在配线基板(20)的输出面(20b)上,构成放射线检测器。由此,可制成半导体元件与配线基板上的对应的导电电路得以完善连接的半导体装置、及使用其的放射线检测器。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 使用 放射线 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种半导体装置,其特征在于,包括:输出电气信号的半导体元件;和在信号输入面与信号输出面之间设置有传送所述电气信号的导电电路的、并在所述信号输入面上连接有所述半导体元件的配线基板,所述配线基板由玻璃基板和导电性部件构成,其中,所述玻璃基板,将捆扎包括芯玻璃部和设置在芯玻璃部周围的覆盖玻璃部的纤维状玻璃部件而形成的束状的玻璃部件切断成期望厚度,并设置有除去了所述芯玻璃部的贯通孔,而所述导电性部件被设置在所述贯通孔内,电气导通所述信号输入面和所述信号输出面之间,作为所述导电电路而工作,所述半导体元件和所述配线基板上的对应的所述导电性部件经由与所述导电性部件一一对应而形成的块状电极来电气连接。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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