[发明专利]在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统无效

专利信息
申请号: 200480005082.3 申请日: 2004-01-09
公开(公告)号: CN1754154A 公开(公告)日: 2006-03-29
发明(设计)人: 若企特·雷吉苏曼;罗伯·萨乌尔;裕明·矢元 申请(专利权)人: 爱德万测试株式会社
主分类号: G06F11/14 分类号: G06F11/14;G06F11/07
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 代理人: 寿宁
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种在非易失性存储器中存储插针校准数据、命令和其他数据的半导体测试系统,该系统接受来自多个供货商的插针卡,每个插针卡都包括一能存储特定校准数据的本地非易失性存储器。测试系统中的每个插针卡都能对被测元件执行不同类型的测试。插针卡上的非易失性存储器被用来存储插针卡校准数据,且与负载板和插座相关的校准数据也可被本地存储于每个插针卡的非易失性存储器中。与插针卡插槽相关的校准数据可被存储于测试系统底板上的非易失性存储器中并被用于校准插针卡的槽对槽偏斜。本地非易失性存储器还可被用于存储在模块、现场控制器和系统控制器中生成的或在其之间传送的命令、数据和错误信息,这样如果发生系统错误,将不必重新生成这些信息。
搜索关键词: 非易失性存储器 存储 校准 数据 命令 其他 半导体 测试 系统
【主权项】:
1、一种在具有系统总线的通信系统中自系统错误有效恢复的方法,其特征在于该方法包括以下步骤:将待从发送装置发送或正由接收装置接收的命令或数据存储到所述发送或接收装置中的本地非易失性存储器中;以及在检测到系统错误时执行恢复序列,以便在检测到系统错误时重新初始化所述系统总线而不需要重新生成或重新发送存储于本地非易失性存储器中的所述命令或数据。
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