[发明专利]通过单视角背照射逆光照相法测量三维物体的方法

摘要

本发明涉及一种用于通过单视角背照射逆光照相法测量三维物体的方法。根据本发明，可以测量这种对可见光半透光或透光的物体(32)的至少一个几何参数，例如中空球体的厚度，确定该物体的光学特征，借助该光学特征建立光线穿过物体的至少一个光学传播模型，所述模型包括使所述参数与对物体图像进行直接观察的结果相关联的方程。所述图像通过用单视角背照射逆光照相法观察该物体获得，获得所述图像，进行观察，并借助方程和观察结果确定参数。

主权项

1.一种用于三维物体(4，32)的至少一个几何参数的不接触式测量方法，所述三维物体对可见光是半透光或透光的，所述方法的特征在于：-确定所述物体的光学特征；-利用所述光学特征，建立可见光穿过所述物体的至少一个光学传播模型，所述模型包括使所述物体的几何参数与对所述物体的图像进行直接观察的结果相关联的方程，所述图像通过单视角背照射逆光照相法用可见光观察所述物体获得；-获取所述物体的所述图像；-进行观察；以及-通过所述方程和所述观察结果确定所述物体的几何参数。