[发明专利]制动盘试验装置用的滑动调节系统

摘要

一种改进的试验系统(10)，用于一个具有上和下表面的、制造的转动式金属产品(16)，该试验系统(10)包括一个测量框架(26)，测量框架有一个固定的下部分(20)和一个与下部分对准的可垂直地移动的测量探头支架(30)，构造为在用于在开启和闭合形状之间垂直地移动，以允许在试验系统(10)内装载和卸载一个产品(16)。一个轴(18)设置用于支承制造的转动式金属产品(16)围绕测量框架(26)内的一个固定的轴线转动，以及至少一组探测器(38)设置在每个上和下测量框架部分，当产品转动时产生代表在制造的转动式金属产品的上和下表面上存在预定的特征的信号。一组复合滑块(12，14)是紧固至测量框架(26)以及构造为支承探测器，用于相对于制造的转动式金属产品(16)的一个上和下表面以及相对于测量框架(26)作二维的位置调节，当在闭合形状时，复合滑块是紧固在测量框架(26)上的。

主权项

1.一种改进的用于制造的转动式金属产品的试验系统，制造的转动式金属产品具有上和下表面，该试验系统包括一个测量框架，测量框架有一个固定的下部分和与下部分对准的一个可垂直地移动的上部分，上部分构造为用于在一个开启和闭合的形状之间移动；用于支承制造的转动式金属产品围绕测量框架内的一个固定的转动轴线转动的一个轴；以及至少一组探测器，构造为当制造的转动式金属产品转动时产生代表制造的转动式金属产品的上和下表面内存在预定的特征的信号，其特征在于，所述的试验系统还包括：一个第一复合滑块，该第一复合滑块构造为支承在上述的至少一组探测器内的一个第一探测器，上述的第一复合滑块构造为用于相对于支承在轴上的一个制造的转动式金属产品的一个下表面作二维调节；以及一个第二复合滑块，构造为支承在上述的至少一组探测器内的一个第二探测器，上述的第二复合滑块构造为相对于制造的转动式金属产品作二维调节。