[发明专利]用于微晶晶体学的样品支架有效

专利信息
申请号: 200480007486.6 申请日: 2004-03-22
公开(公告)号: CN101080628A 公开(公告)日: 2007-11-28
发明(设计)人: R·E·瑟尼;Z·斯特姆;K·奥尼尔;J·卡米托 申请(专利权)人: 康奈尔研究基金会股份有限公司
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00;G01N23/20
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 顾峻峰
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 通过使用具有被施加的曲率的、有图形的聚酰亚胺薄膜(12)、并将该薄膜附加于小金属杆(16)的弯曲外表面为X射线晶体学备制用于安装生物大分子的微晶体的试样支架。有图形的薄膜(12)较佳地包括用于保持晶体的锥形末端(24)。较佳地,在该薄膜内设置用于接纳晶体的小试样孔。还可提供通过排液通道连接于试样孔的一第二较大的孔,允许排除过多的液体和在粘性溶性中较容易的操作。施加于薄膜(12)的曲率增加了薄膜的刚度和允许用于取出晶体的方便的勺状作用。聚酰亚胺最少地影响本底和吸收,并可被处理成得到所需的疏水性或亲水性。
搜索关键词: 用于 晶体学 样品 支架
【主权项】:
1.一种保持使用X射线晶体学进行检测的一晶体的一支架,所述支架包括:具有用于接纳晶体的锥形末端的薄膜;以及用于对所述薄膜施加曲率、以增加所述薄膜的结构刚度的结构。
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