[发明专利]用于测量光盘倾斜的方法和装置无效

专利信息
申请号: 200480007902.2 申请日: 2004-03-10
公开(公告)号: CN1764956A 公开(公告)日: 2006-04-26
发明(设计)人: S·斯塔林加;O·K·安德森;J·李 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G11B7/095 分类号: G11B7/095
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;王忠忠
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 公开了一种用于测量光盘驱动器(1)中的倾斜的方法和装置。光盘驱动器(1)包括两个激光器(31,41),这两个激光器产生具有互不相同的光学特性的两个激光束(32,42)。所述激光束中的一个(32)持续处于ON状态,用于向盘写数据或从盘读数据。另一个激光束(42)在ON和OFF状态之间反复切换。通过将ON阶段(TON)中的标准化误差信号(RES(ON))与OFF阶段中的标准化误差信号(RES(OFF))相比较来测量倾斜。
搜索关键词: 用于 测量 光盘 倾斜 方法 装置
【主权项】:
1.一种测量光盘驱动器(1)中的光盘(2)倾斜的方法,所述方法包括:-在正常阶段(TOFF)中将第一激光束(32)引导到光盘的步骤,该第一激光束具有用于将信息写入到光盘中/从光盘读取信息的第一光学特性,-根据所述第一激光束(32)在光盘上反射之后获得的第一标准化误差信号得出第一中间值(RES(OFF))的步骤,-在倾斜测量阶段(TON)中,将所述第一激光束(32)和具有第二光学特性的第二激光束(42)引导至光盘的步骤,-根据所述第一和第二激光束(32,42)在光盘上反射之后获得的第二标准化误差信号得出第二中间值(RES(ON))的步骤,-根据所述第二和第一中间值之差得出表示倾斜的信号(STLLT)的计算步骤。
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