[发明专利]半导体装置和检查电路及检查方法有效
| 申请号： | 200480007964.3 | 申请日： | 2004-03-17 |
| 公开（公告）号： | CN1764845A | 公开（公告）日： | 2006-04-26 |
| 发明（设计）人： | 棚田好文 | 申请（专利权）人： | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G09G3/20 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 岳耀锋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种半导体装置的检查电路及检查方法，其中，具有由多个NAND电路经多个反相器串联的结构与多个NOR电路经上述多个反相器串联的结构，将像素部中设置的多个源信号线分别与NAND电路及NOR电路的一个输入端相连接，从串联的NAND电路及NOR电路的最后级得到检查输出。这样，就可以提供一种可以使用小规模的电路进行简单并且正确的不良判定的检查电路及检查方法。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 检查 电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体装置的检查电路，其特征在于：具有将来自多个信号线的信号分别输入的多个输入端子和得到检查输出的两个输出端子；由在上述两个输出端子上得到的两个信号进行半导体装置是否可以动作的判定。
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