[发明专利]测试摸拟装置、测试模组模拟装置以及记录此程式的记录媒体有效
申请号: | 200480008414.3 | 申请日: | 2004-03-30 |
公开(公告)号: | CN1768275A | 公开(公告)日: | 2006-05-03 |
发明(设计)人: | 东晋作;市吉清司;安肯·拉马尼克;马克·艾尔斯顿;陈利;罗伯·萨乌尔;瑞马克德兰·克里沙瓦米;赫杉吉尔·辛区;足立敏明;田原善文 | 申请(专利权)人: | 爱德万测试株式会社 |
主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种测试模拟装置,其具有对依据不同循环周期生成测试信号用的所述数个测试模组实施模拟的数个测试模组模拟部;使所述数个测试模组模拟部模拟生成的循环时间相对应的测试信号的测试信号生成用计时时间实施生成的同步模拟部;对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间,按时间顺序进行排列并实施依次输出用的计时时间排列部;以及使与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部分,在与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间里模拟生成测试信号用的进度安排部。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 模组 模拟 以及 记录 程式 媒体 | ||
【主权项】:
1、一种测试模拟装置,适用于模拟一测试装置,该测试装置具有将测试信号分别供给至被测试元件的数个测试模组,其特征在于该测试模拟装置包括:数个测试模组模拟部,模拟该些测试模组,该些测试模组生成依据不同循环周期的测试信号;一控制模拟部,模拟一控制装置,该控制装置控制所述被测试元件的测试;一同步模拟部,依据所述控制模拟部给出的指令,使所述数个测试模组模拟部分别产生一测试信号生成用计时时间,该测试信号生成用计时时间是用于模拟生成与该测试模组模拟部的循环时间相对应的测试信号;一计时时间排列部,对所述同步模拟部生成出的数个所述测试信号生成用计时时间,按时间顺序进行排列并依次输出;以及一进度安排部,使与该一个测试信号生成用计时时间相对应的循环时间的测试信号,模拟生成在与所述计时时间排列部输出的一个所述测试信号生成用计时时间相对应的所述测试模组模拟部。
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