[发明专利]开发半导体集成电路测试程序的方法和构造无效
| 申请号： | 200480009690.1 | 申请日： | 2004-02-16 |
| 公开（公告）号： | CN1784609A | 公开（公告）日： | 2006-06-07 |
| 发明（设计）人： | 克里沙瓦米·瑞马克德兰;辛区·赫杉吉尔;安肯·拉马尼克;马克·艾尔斯顿;陈良力;足立敏明;田原善文 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/319 | 分类号： | G01R31/319;G01R31/3183;G06F11/263 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于例如自动测试装置(ATE)等的使用面向对象结构的半导体测试系统的测试程序。本发明提供一种以通用面向对象结构(例如，C++对象和类)来描述测试系统资源、测试系统配置、模块配置测试序列、测试计划、测试条件、测试模式和计时信息的方法。特定而言，程序开发的模块性适用于开发开放式架构半导体测试系统的测试程序。 | ||
| 搜索关键词： | 开发 半导体 集成电路 测试 程序 方法 构造 | ||
【主权项】：
1、一种以通用C/C++结构开发测试程序的方法，所述测试程序用于测试半导体测试系统中的半导体集成电路(IC)，该方法包括：以通用C/C++结构描述测试系统资源、测试系统配置和模块配置，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序；以通用C/C++结构描述测试序列，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序；以通用C/C++结构描述测试计划，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序；以通用C/C++结构描述测试条件，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序；以通用C/C++结构描述测试模式，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序；以及以通用C/C++结构描述测试模式的计时，用以开发测试半导体测试系统上IC的测试程序。
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