[发明专利]氧化铜薄膜低摩擦材料及其成膜方法无效
申请号: | 200480010869.9 | 申请日: | 2004-04-23 |
公开(公告)号: | CN1802449A | 公开(公告)日: | 2006-07-12 |
发明(设计)人: | 后藤真宏;笠原章;大石哲雄;土佐正弘;吉原一纮 | 申请(专利权)人: | 独立行政法人物质·材料研究机构 |
主分类号: | C23C14/08 | 分类号: | C23C14/08;C23C14/34 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王健 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本申请的发明涉及在成膜用基板上由等离子沉积形成以CuO为主的氧化铜薄膜,并可显著低地控制其摩擦系数。 | ||
搜索关键词: | 氧化铜 薄膜 摩擦 材料 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.氧化铜薄膜低摩擦材料的成膜方法,其特征在于:在成膜用基板上,在真空减压下,由等离子沉积形成以CuO为主的氧化铜薄膜。
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