[发明专利]电子部件试验装置无效
| 申请号： | 200480012837.2 | 申请日： | 2004-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN1788205A | 公开（公告）日： | 2006-06-14 |
| 发明（设计）人： | 伊藤明彦;山下和之 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 何腾云 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种电子部件试验装置，将IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)推压到测试头的接触部进行试验；其中：至少具有IC移动装置(410)、第一摄像机(415)、第二摄像机(420)、图像处理装置；该IC移动装置(410)由把持部(414)把持着IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)导出的前面使其移动；该第一摄像机(415)对把持之前的上述IC芯片(IC)的前面进行摄像；该第二摄像机(420)对把持着的IC芯片(IC)的背面进行摄像；该图像处理装置从由第一摄像机(415)和第二摄像机(420)摄像获得的图像信息，计算出已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)的位置，根据该计算结果，确定已由IC移动装置(410)把持的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置；IC移动装置(410)根据由图像处理装置确定的IC芯片(IC)的输入输出端子(HB)相对接触部的相对位置，修正上述IC芯片的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 部件 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子部件试验装置，将被试验电子部件的输入输出端子推压到测试头的接触部进行试验；其特征在于：至少具有移动单元、第一摄像单元、第二摄像单元、确定单元；该移动单元把持着所述被试验电子部件使其移动；该第一摄像单元对由所述移动单元把持之前的所述被试验电子部件的一个主面进行摄像；该第二摄像单元对已由所述移动单元把持的所述被试验电子部件的另一个主面进行摄像；该确定单元从由所述第一摄像单元和所述第二摄像单元摄像获得的图像信息，计算出已由所述移动单元把持的所述被试验电子部件的输入输出端子的位置和姿势，根据该计算结果，确定已由所述移动单元把持的所述被试验电子部件相对所述接触部的相对位置和姿势；所述移动单元根据由所述确定单元确定的所述被试验电子部件的相对的位置和姿势，修正所述被试验电子部件的位置和姿势。
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