[发明专利]位线结构及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200480013022.6 申请日: 2004-04-21
公开(公告)号: CN1788343A 公开(公告)日: 2006-06-14
发明(设计)人: R·卡科施克;F·舒勒;G·滕佩尔 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: H01L21/8247 分类号: H01L21/8247;H01L27/115;H01L21/8246
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;梁永
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及包含表面位线和埋藏的位线(5,SL)的位线结构,其中该埋藏的位线形成在沟槽(T)的上段中,并经第一连接层(11)连接到有关的第一掺杂区(S)。此外,通过第二沟槽隔离层(4)与该埋藏的位线(5,SL)隔离的第一沟槽填充层(3)处于沟槽(T)的下段中。
搜索关键词: 结构 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种位线结构,包括:衬底(1,100,101),在该衬底中形成深沟槽(T);第一沟槽隔离层(2),其形成在沟槽表面上;第一沟槽填充层(3),其形成在所述第一沟槽隔离层(2)的表面上并填充所述沟槽(T)的下段;第二沟槽隔离层(4),其形成在所述第一沟槽填充层(3)的表面上;用于形成埋藏的位线(SL)的第二导电沟槽填充层(5),其形成在所述第二沟槽隔离层(4)的表面上并填充所述沟槽(T)的上段至少部分地直到所述衬底表面,;至少一个第一导电型(n)的第一掺杂区(8,S),其形成在所述衬底(101)的表面中;至少一个第一导电连接层(11,13A),其被形成用于将所述第一掺杂区(S)电连接到在所述第一掺杂区(8,S)的表面上的第二沟槽填充层(5,SL)、所述第一沟槽隔离层(2)和第二沟槽填充层(5,SL);至少一个第一导电型(n)的第二掺杂区(8,D),其形成在所述衬底(101)的表面中;表面电介质(7,10,12,12A,12B),其形成在所述衬底(101)的表面上和所填充的沟槽(T)的表面上;表面位线(DL),其形成在所述表面电介质的表面上;和至少一个第二连接层(13),其被形成用于将所述表面位线(DL)连接到所述表面电介质中的至少第二掺杂区(8,D)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于因芬尼昂技术股份公司,未经因芬尼昂技术股份公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480013022.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top