[发明专利]试验装置及测试模块无效
| 申请号： | 200480013886.8 | 申请日： | 2004-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN1791803A | 公开（公告）日： | 2006-06-21 |
| 发明（设计）人： | 鹫津信栄 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的目的是提供一种试验装置，为一种对具有用于接收信号的多个元件终端的电子元件进行试验的试验装置，包括：将表示应赋予元件终端的信号的动作的动作条件，与该元件终端建立对应并输出的动作条件输出部、将电子元件的测试所使用的测试信号，根据动作条件所示的动作而赋予电子元件的测试模块；测试模块包括：分别与某个元件终端电气连接并将测试信号分别供给到该元件终端的多个装置终端、用于存储表示各个元件终端和与该元件终端连接的装置终端的对应的终端对应信息的终端对应存储部、将与对应动作条件的元件终端连接的装置终端，根据终端对应信息进行选择，并对选择了的装置终端设定动作条件的动作条件设定部。 | ||
| 搜索关键词： | 试验装置 测试 模块 | ||
【主权项】：
1.一种试验装置，为一种对具有用于接收信号的多个元件终端的电子元件进行试验的试验装置，包括：将表示应赋予前述元件终端的前述信号的动作的动作条件，与该元件终端建立对应并输出的动作条件输出部、将前述电子元件的测试所使用的测试信号，根据前述动作条件所示的动作而赋予前述电子元件的测试模块；前述测试模块包括：分别与某个前述元件终端电气连接并将前述测试信号分别供给到该元件终端的多个装置终端、用于存储表示各个前述元件终端和与该元件终端连接的前述装置终端的对应的终端对应信息的终端对应存储部、将与对应前述动作条件的前述元件终端连接的前述装置终端，根据前述终端对应信息进行选择，并对选择了的前述装置终端设定前述动作条件的动作条件设定部。
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