[发明专利]自动测试模式生成无效
申请号: | 200480014078.3 | 申请日: | 2004-05-19 |
公开(公告)号: | CN1795395A | 公开(公告)日: | 2006-06-28 |
发明(设计)人: | E·J·马里尼斯森;H·G·H·维穆伦;H·D·L·霍尔曼恩 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/3183 | 分类号: | G01R31/3183 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴立明;王忠忠 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 描述了一种用于生成数字测试模式以便测试多个布线互连的方法。生成第一测试模式集;第一集合中测试模式的数目涉及布线互连的所述数目,并且定义第一组代码字。根据第一组代码字,选择第二组代码字。第二组中代码字的数目等于布线互连的所述数目,并且第二组代码字的选择是这样来进行的,即:使第二组中代码字的变换计数总和最小。 | ||
搜索关键词: | 自动 测试 模式 生成 | ||
【主权项】:
1.一种用于生成数字测试集以便测试多个布线互连的方法,每个测试集包括一个位矩阵,所述矩阵用于定义第一组测试模式和第二组代码字,其中每个测试模式的位用于相应的彼此并行的布线互连,并且用于一个互连的连续测试模式的位形成该互连的代码字,并且其中,每个代码字具有与其多个位值变换相关的变换计数,所述测试集具有与测试集中代码字的变换计数总和相关的总变换计数,所述方法包括生成测试集的步骤,所述测试集包括log2k以上个测试模式,其中k是布线互连生成的数目,并且其具有小于预定阈值的总变换计数,所述预定阈值与测试集中测试模式的数目具有预定的关系。
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