[发明专利]使用光电放大器的板挠度测量无效
| 申请号： | 200480015172.0 | 申请日： | 2004-03-12 |
| 公开（公告）号： | CN1799300A | 公开（公告）日： | 2006-07-05 |
| 发明（设计）人： | 艾伦·麦卡利斯特;奥尔顿·赫齐尔廷 | 申请（专利权）人： | 英特尔公司 |
| 主分类号： | H05K13/08 | 分类号： | H05K13/08 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人： | 齐永红 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 制造商测试印刷电路板(PCB)以保证所有元件已经被正确地焊接。某些测试可能导致板挠曲，这可能损坏元件到板的界面(即焊接接头)或元件。本发明的实施方案使用光电放大器测量在PCB经受机械负荷之前、期间和之后的PCB挠曲量，所述光电放大器通过光纤和安装在头组件中的透镜向安装在PCB表面上的目标发送和接收光束。接收到的光束的强度和光电放大器输出的模拟电压成比例，并且和头组件和目标之间的距离成比例。数据采集系统将模拟电压转换为数字电压，并且，软件接口将该所述数字电压与PCB挠度/位移相关联。GUI显示PCB在经受机械负荷之前、期间和之后的挠度。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 光电 放大器 挠度 测量 | ||
【主权项】：
1.一种系统，包括：印刷电路板(PCB)；适于以机械方式给所述PCB加负荷的设备；以及耦合来确定在以机械方式给所述PCB加负荷之前、期间和之后所述PCB的挠度的光学线路。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于英特尔公司，未经英特尔公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480015172.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：球形托卡马克磁体环向场线圈的中心柱
- 下一篇：用于混合型断路器中的驱动机构
