[发明专利]测试装置

摘要

一种测试装置，其具有生成第1基准时钟脉冲的第1基准时钟脉冲生成部；根据第1基准时钟脉冲，生成第1测试速率时钟脉冲的第1测试速率生成部；根据第1测试速率时钟脉冲，将第1测试图形供给至电子元件的第1驱动部；生成第2基准时钟脉冲的第2基准时钟脉冲生成部；使第2基准时钟脉冲与第1测试速率时钟脉冲相位同步的第1相位同步部；根据相位同步的第2基准时钟脉冲，生成第2测试速率时钟脉冲的第2测试速率生成部；以及根据第2测试速率时钟脉冲，将第2测试图形供给至电子元件的第2驱动部。

主权项

1、一种测试装置，用于测试电子元件，其特征在于其包括：第1基准时钟脉冲生成部，生成具有第1频率的第1基准时钟脉冲；第1测试速率生成部，根据前述第1基准时钟脉冲，生成表示第1测试图形供给至前述电子元件的供给周期的第1测试速率时钟脉冲；第1驱动部，根据前述第1测试速率时钟脉冲，将前述第1测试图形供给至前述电子元件；第2基准时钟脉冲生成部，生成频率在预先确定的频率范围内可变的第2基准时钟脉冲；第1相位同步部，使前述第2基准时钟脉冲与前述第1测试速率时钟脉冲相位同步；第2测试速率生成部，根据相位同步的前述第2基准时钟脉冲，生成表示第2测试图形供给至前述电子元件的供给周期的第2测试速率时钟脉冲；以及第2驱动部，根据前述第2测试速率时钟脉冲，将前述第2测试图形供给至前述电子元件。