[发明专利]用于对微特征工件机械和/或化学-机械抛光的方法和包括下垫的抛光机无效

专利信息
申请号: 200480016662.2 申请日: 2004-04-26
公开(公告)号: CN1805823A 公开(公告)日: 2006-07-19
发明(设计)人: 詹森·B·埃勒德基 申请(专利权)人: 微米技术有限公司
主分类号: B24B37/04 分类号: B24B37/04
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 刘晓峰
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明公开了一种用于对微特征工件(112)进行机械和/或化学-机械抛光的抛光机以及方法。在一个实施例中,所述抛光机包括具有支撑表面的台,通过支撑表面所承载的下垫,以及在所述台之上的承载器组件(130)。下垫(150)具有空腔(152),承载器组件被构造以承载微特征工件。所述抛光机还包括磁场源(170),所述磁场源(170)被构造以在空腔中和设置在空腔中的磁流变流体(160)中产生磁场。在磁场源的影响下磁流变流体改变空腔之内的粘性。
搜索关键词: 用于 特征 工件 机械 化学 机械抛光 方法 包括 抛光机
【主权项】:
1.一种用于对微特征工件进行机械和/或者化学-机械抛光的抛光机,所述抛光机包括:具有支撑表面的台;通过支撑表面所承载的下垫,下垫具有空腔;在所述台之上的工件承载器组件,所述承载器组件被构造以承载微特征工件;磁场源,所述磁场源被构造以在空腔中产生磁场;以及空腔中的磁流变流体。
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