[发明专利]通用可访问完全可编程的存储器内置自测系统和方法有效
| 申请号： | 200480016889.7 | 申请日： | 2004-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN1806293A | 公开（公告）日： | 2006-07-19 |
| 发明（设计）人： | 路易斯·A·巴斯托 | 申请（专利权）人： | 阿纳洛格装置公司 |
| 主分类号： | G11C11/00 | 分类号： | G11C11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种通用可访问完全可编程的存储器内置自测(MBIST)系统，包括：MBIST控制器，具有配置成为在测存储器产生地址的地址发生器，配置成向所述在测存储器的选定地址递送测试数据及读出该测试数据的序列发生器电路，配置成对比从所述在测存储器读出的所述测试数据和向所述在测存储器递送的所述测试数据，以识别存储器故障的比较器电路，以及向所述在测存储器提供测试数据模式的外部可访问用户可编程的模式寄存器。本系统包括外部模式编程设备，配置成向所述用户可编程的数据模式寄存器提供测试数据模式。 | ||
| 搜索关键词： | 通用 访问 完全 可编程 存储器 内置 自测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种通用可访问完全可编程的存储器内置自测(MBIST)系统，包括：MBIST控制器，包括：地址发生器，配置成为在测存储器产生地址；序列发生器电路，配置成向所述在测存储器的选定地址递送测试数据以及读出该测试数据；比较器电路，配置成对比从所述在测存储器读出的所述测试数据和向所述在测存储器递送的所述测试数据，以识别存储器故障；以及外部可访问用户可编程的模式寄存器，用于向所述在测存储器提供测试数据模式；以及外部模式编程设备，配置成向所述用户可编程的模式寄存器提供所述测试数据模式。
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