[发明专利]确定可记录光学存储系统内最佳激光功率的方法和设备无效
| 申请号： | 200480017702.5 | 申请日： | 2004-06-22 |
| 公开（公告）号： | CN1813294A | 公开（公告）日： | 2006-08-02 |
| 发明（设计）人： | G·R·兰格雷斯;J·W·赫尔米格 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/125 | 分类号： | G11B7/125 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨生平;梁永 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种减小光学介质上最佳写入参数控制过程(OPC)所占用的区域的方法和执行这种方法的装置。这种方法使用了一个用一组参考写入参数写入的参考数据图形和一个用一组测量写入参数写入的测量数据图形。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 记录 光学 存储系统 最佳 激光 功率 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种为激光器确定一组最佳写入参数以写入光学存储介质的方法，所述方法包括：定义光学存储介质的一个测试区；使用一个具有一组操作写入参数的激光器将一个预定数据图形写入测试区；为预定数据图形测量抖动值；以及根据测得的抖动值选择激光器的一组最佳操作写入参数来将数据写入光学存储介质，所述最佳写入参数组最小化光学存储介质的抖动值，其特征在于将预定数据图形写入测试区的步骤包括下列步骤：使用激光器的一组参考写入参数将一个参考数据图形写入测试区；和使用激光器的一组测量写入参数将一个测量数据图形写入测试区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480017702.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：多级热交换装置及其制造方法
- 下一篇：多灯驱动系统及方法
