[发明专利]包括能带工程超晶格的半导体装置有效

专利信息
申请号: 200480018015.5 申请日: 2004-06-28
公开(公告)号: CN1813353A 公开(公告)日: 2006-08-02
发明(设计)人: 罗伯特·J.·梅尔斯;吉恩·A.·C·S·F·伊普彤;迈尔柯·伊萨;斯科特·A.·柯瑞普斯;伊利佳·杜库夫斯基 申请(专利权)人: RJ梅尔斯有限公司
主分类号: H01L29/15 分类号: H01L29/15;H01L29/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种半导体装置包括超晶格,从而包括多个堆叠层组。每个超晶格组可包括多个堆叠的基半导体单层,其限定基半导体部分和其上的能带修饰层。而且,能带修饰层可包括至少一个非半导体单层,其被限制在邻近基半导体部分的晶格内。因此,该超晶格可在平行方向上比其它情形中高的载流子迁移率。
搜索关键词: 包括 能带 工程 晶格 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其包括:超晶格,其包括多个堆叠的层组;每个所述超晶格的层组包括多个堆叠的基半导体单层,该基半导体单层限定半导体部分和其上的能带修饰层;所述层组以第一和第二层组交替的方式布置,每个第一层组包括三个基半导体单层,且每个第二层组包括5个基半导体单层;所述能带修饰层包括至少一个非半导体单层,其被限制在邻近基半导体部分的晶格内。
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