[发明专利]用于测量流体的体积流速或质量流速的器具无效

专利信息
申请号: 200480018400.X 申请日: 2004-05-12
公开(公告)号: CN1819864A 公开(公告)日: 2006-08-16
发明(设计)人: 阿维雷姆·罗能;叶切尔·魏因施泰因 申请(专利权)人: A.L.哈达斯技术有限公司
主分类号: B01D17/12 分类号: B01D17/12
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 代理人: 南霆
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要: 提供用于测量流体的体积流速或质量流速的器具,该器具包括一个囊体(12)和一个磁性力施加装置(24),其中所述囊体(12)适于在壳体(22)内往复运动并且接收来自管(18)的流体,而所述磁性力施加装置(24)适于施加力到囊体(12)上,所述力与囊体(12)位置成比例。在囊体(12)的底部开口设置有用于流体阻塞的密封件(20),同时设置有一个当囊体(12)向下定位时推开密封件(20)的销(36),以排放囊体。因此,可以连续地测量流体的体积流速或质量流速,并且可以确定体积流速。
搜索关键词: 用于 测量 流体 体积 流速 质量 器具
【主权项】:
1、一种用于测量流体的质量流速的器具,所述器具包括:具有上部开口和底部开口的囊体;具有上端和底端的壳体,其中,所述囊体适于在所述壳体内向上和向下移动;设置在预定位置上的施力装置,所述施力装置适于将力施加在所述囊体上,所述力与所述壳体内所述囊体的位置成比例;设置在所述壳体的所述上端中的管,流体经过所述管流进所述囊体内;适于测量所述力的测量装置;适于控制所述施力装置的控制器;设置在所述底部开口上的密封件,所述密封件适于流体阻塞所述底部开口;设置在所述壳体的所述底端上的打开装置,所述打开装置适于在所述囊体向下定位时,打开所述密封件;由此,所述壳体内的囊体的位置取决于囊体中所积存的流体的质量以及施加于其上的力,随着流体在所述囊体内的积存,囊体朝着所述底端向下移动,在所述底端上,由于所述打开装置打开密封件,因而流体得以排放,因此,可以测量通过器具的流体的数量及其流速。
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