[发明专利]加工硅晶片的方法无效
申请号: | 200480018575.0 | 申请日: | 2004-10-28 |
公开(公告)号: | CN1816901A | 公开(公告)日: | 2006-08-09 |
发明(设计)人: | 古屋田荣;高石和成 | 申请(专利权)人: | 株式会社上睦可 |
主分类号: | H01L21/306 | 分类号: | H01L21/306;H01L21/308 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 蔡胜有 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的硅晶片的加工方法包括:腐蚀工艺(13),其中将酸腐蚀液和碱腐蚀液分别存储在多个腐蚀罐中,将经过了研磨工艺(11)并随后进行了清洗工艺(12)的具有变质表面层的硅晶片依次浸入到酸腐蚀液和碱腐蚀液中;正面镜面抛光工艺(18),对所述腐蚀后的晶片的一面进行镜面抛光;清洗工艺(19),对所述正面镜面抛光后的晶片进行清洗,其中腐蚀工艺这样进行,碱腐蚀在酸腐蚀之后进行;其中当主要由氢氟酸和硝酸组成的酸水溶液为100%重量比时,酸腐蚀液中含有重量比等于或者大于30%的磷酸。本发明的加工方法可以保持研磨后的平整度,同时可以降低表面粗糙度。进一步的,在正面是镜面抛光的晶片上,可以得到好的平整度,并使背面粗糙度变小。 | ||
搜索关键词: | 加工 晶片 方法 | ||
【主权项】:
1.一种硅晶片的加工方法,将经过了研磨工艺并随后进行了清洗工艺的具有变质表面层的硅晶片浸入到酸腐蚀液中,由此对所述晶片进行腐蚀,该酸腐蚀液为在主要由氢氟酸和硝酸组成的酸水溶液中含有磷酸。
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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