[发明专利]加工硅晶片的方法无效

专利信息
申请号: 200480018575.0 申请日: 2004-10-28
公开(公告)号: CN1816901A 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: 古屋田荣;高石和成 申请(专利权)人: 株式会社上睦可
主分类号: H01L21/306 分类号: H01L21/306;H01L21/308
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 蔡胜有
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明的硅晶片的加工方法包括:腐蚀工艺(13),其中将酸腐蚀液和碱腐蚀液分别存储在多个腐蚀罐中,将经过了研磨工艺(11)并随后进行了清洗工艺(12)的具有变质表面层的硅晶片依次浸入到酸腐蚀液和碱腐蚀液中;正面镜面抛光工艺(18),对所述腐蚀后的晶片的一面进行镜面抛光;清洗工艺(19),对所述正面镜面抛光后的晶片进行清洗,其中腐蚀工艺这样进行,碱腐蚀在酸腐蚀之后进行;其中当主要由氢氟酸和硝酸组成的酸水溶液为100%重量比时,酸腐蚀液中含有重量比等于或者大于30%的磷酸。本发明的加工方法可以保持研磨后的平整度,同时可以降低表面粗糙度。进一步的,在正面是镜面抛光的晶片上,可以得到好的平整度,并使背面粗糙度变小。
搜索关键词: 加工 晶片 方法
【主权项】:
1.一种硅晶片的加工方法,将经过了研磨工艺并随后进行了清洗工艺的具有变质表面层的硅晶片浸入到酸腐蚀液中,由此对所述晶片进行腐蚀,该酸腐蚀液为在主要由氢氟酸和硝酸组成的酸水溶液中含有磷酸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社上睦可,未经株式会社上睦可许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200480018575.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top