[发明专利]光学记录媒介、管理其缺陷区的方法、其记录方法及其记录/再现装置有效
| 申请号： | 200480020123.6 | 申请日： | 2004-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN1823372A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 金进镛;徐相运 | 申请（专利权）人： | LG电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 李玲 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种管理可高速记录的光盘的缺陷区的方法、其记录/再现方法及其记录/再现装置，通过它们提供缺陷区的精确判定。此外，最佳记录速度可应用于特定区域中的重新记录，从而能确保数据的高可靠性。在具备用于高速可记录光盘内的缺陷管理的缺陷管理区的光盘中，本发明包括验证在以高速进行记录时是否产生缺陷区，如果在高速下产生缺陷区则通过将记录速度变成低速来重新验证相应区域的缺陷的是否存在，并在缺陷管理区中记录以管理在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的区域的位置信息。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 记录 媒介 管理 缺陷 方法 及其 再现 装置 | ||
【主权项】：
1.一种管理光学记录媒介中的缺陷区的方法，包括以下步骤：检查在第二记录速度下是否发现缺陷区，在第一记录速度下是否发现所述缺陷区，所述第二记录速度低于所述第一记录速度；以及基于所述检查步骤确定是否用替换区替换所述缺陷区。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于LG电子株式会社，未经LG电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200480020123.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于根据流量方向路由信息的方法和装置
- 下一篇：特种防弹组合物
