[发明专利]具有隐藏测试插脚的外设卡无效
| 申请号： | 200480020545.3 | 申请日： | 2004-06-30 |
| 公开（公告）号： | CN1823341A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 赫姆·P·塔基耶 | 申请（专利权）人： | 桑迪士克股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K19/077 | 分类号： | G06K19/077 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 刘国伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种外设卡(200)包括一电路板、所述电路板上的各种电路元件、一组用户端子、一组测试端子和一覆盖所述电路板的一部分和所述电路元件的包裹体。所述包裹体不覆盖所述用户端子(230)和测试端子(232)。在测试所述外设卡之后，以一保形接触涂层(conformal contact coating)覆盖所述测试端子(232)来防止对所述测试端子的访问。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 隐藏 测试 插脚 外设 | ||
【主权项】：
1.一种制造一存储卡的方法，其包含以下步骤：将电路元件添加到一电路板，所述电路板包括一组测试端子；使用所述测试端子测试一个或一个以上所述电路元件；和以一保形接触涂层(conformal contact coating)覆盖所述测试端子以防止对所述测试端子的访问。
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